Paul F (Panalytical Research, Uk) Fewster
X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)
Gebonden EN 2003 9781860943607
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen
Samenvatting
A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.
Specificaties
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan