C. V. Thompson,
J. R. Lloyd
Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265
Gebonden Engels 1992 9781558991606
Verwachte levertijd ongeveer 9 werkdagen
Specificaties
ISBN13:9781558991606
Taal:Engels
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:346
Uitgever:Cambridge University Press
Serie:MRS Proceedings
Lezersrecensies
Wees de eerste die een lezersrecensie schrijft!
Rubrieken
- advisering
- algemeen management
- coaching en trainen
- communicatie en media
- economie
- financieel management
- inkoop en logistiek
- internet en social media
- it-management / ict
- juridisch
- leiderschap
- marketing
- mens en maatschappij
- non-profit
- ondernemen
- organisatiekunde
- personal finance
- personeelsmanagement
- persoonlijke effectiviteit
- projectmanagement
- psychologie
- reclame en verkoop
- strategisch management
- verandermanagement
- werk en loopbaan